¡Presentamos un nuevo producto para análisis de estrés físico residual, el (micro) µ-X360S de Pulstec Industrial!
El µ-X360S es un analizador por rayos X de estrés residual en materiales poli-cristalinos (que sus moléculas están organizadas en forma periódica –cristalina- o en agregados de pequeños cristales), tales como:
*diferentes materiales pueden requerir diferentes emisores de rayos X. Estos son componentes intercambiables del dispositivo. Solicite más información con su agente de ventas.
El µ-X360S permite el análisis no destructivo de estrés y dureza en lugares y piezas o productos que por su naturaleza no se pueden analizar en laboratorio pues está impedida su fragmentación o destrucción, y/o que no se pueden transportar fuera del lugar de trabajo o producción; por ejemplo:
La portabilidad reside en su compacto diseño con un peso total de 10 kilos (escáner y fuente de poder), además de que su bajo poder (45W) lo hace muy seguro de usar; no tiene límite teórico para el tamaño de la pieza a medir, y la batería le da capacidad de operación de hasta 6 horas. Esto lo hace el analizador de estrés residual ideal para las industrias de la construcción, infraestructura, astilleros, aeroespacial y fundición, no solo para producto terminado, sino también como un aliado para el mantenimiento estructural de producto funcional como barcos, puentes, estructuras, aeronaves y moldes de inyección.
Pero además, la versatilidad del analizador µ-X360S le da utilidad como parte del laboratorio para piezas medianas o pequeñas en las que el análisis destructivo puede alterar los resultados de estrés:
Prevenga y anticipe fallas, deformaciones o fisuras; mejore la calidad y desempeño de sus procesos de producción y mantenimiento. El µ-X360S es útil para para gran variedad de industrias: construcción, astilleros, industria pesada, aeroespacial, petroquímica (contenedores y tubería), metalurgia y fundición, metalmecánica, etc.
El µ-X360S utiliza el principio de difracción de rayos X desde la estructura cristalina según la ley de Bragg: nλ = 2d Sin(θ) (método del primer Cosα), donde la orientación de los distintos cristales del material debido al estrés genera un diferente ángulo de difracción en relación al de incidencia de los rayos X, esto generando a su vez los datos para representar el anillo Debye (la profundidad de penetración es de 10µm o más dependiendo de las características de la superficie).
Los resultados se muestran como representación gráfica de los anillos Debye (mostrando el tamaño y orientación de los cristales), cálculo de estrés residual en Mpa’s, datos estadísticos FWHM (Anchura a Altura Media) y opcionalmente cálculo de porcentaje de austenita (opcional), todos los cuales pueden ser archivados (junto con la foto de la muestra) para futuras referencias. Todos estos datos permiten una rápida evaluación visual de la muestra.
Manufactura de partes metálicas, el µ-X360S le ayuda a dar seguimiento total al proceso, permitiéndole identificar la parte del proceso donde existan problemas de fallas por estrés residual, identificando en cual parte de la manufactura se genera la falla estructural.
El µ-X360 le permite, a través del análisis de estrés residual, reducir costos de reparación identificando con tiempo los cambios en valor en los parámetros de estrés del molde, evitando así fallos de molde y pérdida de producción por problemas de calidad.
Además, analice las reparaciones con soldadura en sus moldes, reduciendo costos de mantenimiento y asegurando el desempeño correcto de su soldadura.
Lo invitamos a conocer más de esta herramienta de análisis con su agente de ventas. Haz clic aquí para solicitar una cotización, o, puede hacer clic aquí para poder descargar el catálogo oficial del producto.